单元测试 – 如何在跟踪TDD时处理内存泄漏

假设我想在编写任何其他代码之前遵循纯TDD,即写单元测试.当我发现错误时,我必须编写单元测试来重现它然后实现修复.

假设我的应用程序中存在内存泄漏.我可以重现它 – 运行特定方法1,000,000次会导致OutOfMemoryException.此测试需要10秒才能失败.

长时间运行的单元测试通常不受欢迎,特别是当它们消耗大量内存时.此后,可能还有其他内存泄漏,因此可能会增加此类测试的数量.

那么如何解决这个错误的TDD方式呢？

（编辑：安卓应用网）

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